顆粒圖像分析系統(tǒng)BLD-60
儀器用途：
巴拓?BLD-60系列顆粒圖像分析系統(tǒng)適用于對透明與不透明物體進行顯微觀察。適合用于顆粒粒徑測量，金相組織分析，電路板切片，芯片電路，纖維長度直徑測量等
本儀器采用無限遠色差校正系統(tǒng)，成像清晰，結構簡單，操作便捷，適合高校教學，常規(guī)實驗研究等使用。
性能特點：
▲ 先進的無限遠光學系統(tǒng)，配備專業(yè)金相物鏡。
▲ T型底座設計，有效防止高倍下震動引起的圖像抖動。
▲ 粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。
▲ 6V30W鹵素燈或LED照明，亮度可調。
▲ 三目鏡筒, 無限遠鉸鏈5:5分光觀察頭，可同時進行目鏡和攝影觀察。
▲ 外置式寬電壓適配器，安全可靠。
標準配置：
光學系統(tǒng) | 無限遠色差校正光學系統(tǒng) |
觀察筒 | 30°傾斜，無限遠鉸鏈三目5:5分光觀察頭，瞳距調節(jié)：54mm－75mm，單邊視度調節(jié)：±5曲光度，配0.5X攝像接口 |
目鏡 | 高遠點WF10X20mm目鏡 |
物鏡 | 無限遠長工作距平場消色差金相物鏡 5X NA0.15 WD12 |
無限遠長工作距平場消色差金相物鏡 10X NA0.3 WD16 |
無限遠長工作距平場消色差金相物鏡 20X NA0.4 WD12 |
無限遠長工作距平場消色差金相物鏡 50X NA0.55 WD9.15 |
無限遠長工作距平場消色差金相物鏡 100X NA0.8 WD3（可選件） |
物鏡轉換器 | 內定位4孔轉換器 |
粗微調焦機構 | 反射機架，配金屬載物臺板，低手位粗微同軸調焦機構，粗調行程23mm，微調精度0.002mm。帶有防止載物臺下滑的松緊調節(jié)裝置 |
透反兩用機架，配透反兩用玻璃載物臺板，低手位粗微同軸調焦機構，粗調行程23mm，微調精度0.002mm。帶有防止載物臺下滑的松緊調節(jié)裝置 |
載物臺 | 雙層機械移動平臺，低手位X、Y方向同軸調節(jié)；平臺大小145mm×132mm,移動范圍76mm×50mm |
可配反射用金屬載物臺板，透反兩用玻璃載物臺板 |
落射照明系統(tǒng) | 單顆大功率5WLED，反射燈室，暖白光，柯拉照明，帶視場光欄與孔徑光闌，光闌中心大小可調，外置式寬電壓適配器，輸入100V－240V－AC50/60Hz,輸出DC12V2A |
透射照明系統(tǒng) | 單顆大功率5W白光LED燈（選配） |
其它附件 | 透射用阿貝聚光鏡，數(shù)值孔徑N.A1.25，帶可變光闌，中心預調 |
隨機配起偏鏡及檢偏鏡，檢偏鏡360°旋轉可調 |
攝像附件：0.35X、1XC接口，可調焦（可選） |
反射用干涉濾色片：藍色、綠色、白色（選購件） |
分析系統(tǒng)簡介：
1、 測試范圍：1-2000μm。
2、 放大倍數(shù)：2000倍（光學和電子放大結合）。
3、 最大分辨率：0.6μm。
4、 ※ 數(shù)字攝像機：1800萬像素USB3.0。
5、 重復性誤差≤3%（視樣品情況以及圖像質量而定）。
6、 準確性誤差≤3%（視樣品情況以及圖像質量而定）。
7、 標尺精度：10um。
8、 自動分割速度：>1秒。
9、 分割成功率：< 93%。（視樣品情況以及圖像質量而定）
10、 操作系統(tǒng)：WinXP/Win7/Win8/Win10。
11、 接口方式：USB3.0（兼容USB2.0）方式。
12、 軟件具有顆粒定位功能。
13、 軟件功能：圖像影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度調節(jié)、自動分析圖片（批量分析）等。
14、 軟件分析項：自動標定顆粒的尺寸，自動分割，具有多幅圖片合并并同時自動分析功能。能夠測出長徑比，圓形度，及簡單的粒度分析。
15、 15、數(shù)據輸出項：粒度分布曲線和分布表、圓度、曲線、周長、面積、直徑等，還包括原始參數(shù)（包括樣品信息、測試信息）、分析數(shù)據（包括區(qū)間分布、累計分布、平均徑，長徑比以及長徑比分布等）、分布圖形（區(qū)間分布直方圖和累計分布曲線等）、比表面積、單體顆粒和顆粒群等。
