PCB顯微鏡切片分析方法發(fā)表時(shí)間:2024-04-02 17:36作者:上海巴拓儀器有限公司 PCB顯微鏡切片分析方法 PCB液晶檢查大平臺金相顯微鏡配有大移動(dòng)范圍的載物臺、落射照明器、平場無限遠(yuǎn)長工作距離物鏡、大視野目鏡、圖像清晰,襯度好。是針對半導(dǎo)體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的,作為高級工業(yè)顯微鏡使用??蛇M(jìn)行明暗場觀察、落射偏光、DIC觀察,廣泛用于工廠、研究機(jī)構(gòu)、高等院校對硅片、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。 現(xiàn)在就由上海巴拓儀器有限公司介紹一下LCD檢查顯微鏡的切片分析方法: LCD檢查顯微鏡的切片分析方法的目的就是檢測電路板品質(zhì)的好壞、問題的發(fā)生與解決、制程改進(jìn)的評估,在都需要切片做為客觀檢查、研究與判斷的根據(jù)。切片質(zhì)量的好壞,對結(jié)果的判定影響很大。 切片分析主要用于檢查PCB內(nèi)部走線厚度、層數(shù),通孔孔徑大小,通孔質(zhì)量觀察,用于檢查PCBA焊點(diǎn)內(nèi)部空洞,界面結(jié)合狀況,潤濕質(zhì)量評價(jià)等等。切片分析是進(jìn)行PCB/PCBA失效分析的重要技術(shù),切片質(zhì)量將直接影響失效部位確認(rèn)的準(zhǔn)確性。 切片步驟: 取 樣(Samplc culling)→封 膠(Resin Encapsulation)→研磨(Crinding)→拋 光(Poish)→微蝕(Microetch)→觀察(Inspect)。 |